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Teilchen- und Röntgendetektoren
    Teilchen- und Röntgendetektoren
Atomare Teilchen mit ausreichender Bewegungsenergie und Röntgenstrahlung können direkt über die Absorption am Kristallgitter oder indirekt über Szintilatoren mit Strahlungsempfängern aus Silizium nachgewiesen werden.
Dazu sind teilweise sehr große Absorptionsvolumen und extrem kleine Dunkelsignale bei teils völlig verarmten Wafern erforderlich. Die Silicon Sensor International AG bietet für die energieaufgelöste Spektroskopie Lösungen an.

Spezielle Eigenschaften
  • Waferdicken bis zu 720 µm
  • Sehr kleine Dunkelstromsignale
  • Sehr kleine Kapazitäten
  • Geringste Serienwiderstände bei voller Verarmung

Type No.Active AreaDark current (nA)Capacitance (pF)Gammaenergie Eγ (KeV)Szintillator CsJ (TI)γ-Fenster³ Ø (mm)
ChipPackageSize (mm)Area (mm²)
PC0,5-7γTO52
Ø 0,8
0,50,01typ. 0,12 … ca. 40ohne3
PC1,8-7γTO5
Ø 1,5
1,80,04typ. 0,352 … ca. 40ohne3
X10-6 TOTO39
Ø 3,57
100,5100min. 5without
PC10-7γTO8s
Ø 3,75
100,16typ. 22 … ca. 40ohne6
PC10-7γ SzTO8s
Ø 3,75
100,16typ. 2ca. 40 … > 1 MeVmit6
PC10-7γ SzBsTO8s
Ø 3,75
100,16typ. 2ca. 3 … > 1 MeVmit6
PC5-7γTO8s
Ø 2,52
50,08typ. 12 … ca. 40ohne6
Vergleichen (max. 4)
Telefon: +49(0)30 / 63 99 23 - 12   -   Telefax: +49(0)30 / 63 99 23 - 33   -   E-Mail: sales@silicon-sensor.de